GBT 5170.17-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 低溫低氣壓濕熱.pdf

GB/T5170.17-2005電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備

1  范圍

1.1 本部分規定了低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數量及布放位置、檢定步驟、數據處理及檢定結果等內容。

1.2 本部分適用于對GB/T2423.27—2005《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AMD∶低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》所用試驗設備的周期檢定。

本部分也適用于類似試驗設備的周期檢定。

2  規范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB/T 2423.27—2005 電工電子產品基本環境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Z/AMD∶低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗（IEC 60068-2-39∶1976，IDT）

GB/T 5170.1—1995  電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法  總則GB/T6999 環境試驗用相對濕度查算表